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        • 紅外應力雙折射測量系統WPA-NIR 硫系,紅外樹脂等材料對可見光不透過,這樣的樣品殘余應力評估很難實現,為此PhotonicLattece專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀,采用850nm或940nm波長,能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應力分布。
        • 應力雙折射測量系統WPA-200-MT是Z業用于手機鏡頭等小尺寸鏡頭的應力雙折射測量設備。鏡片的雙折射現象會造成鏡片成像性能(MTF)下降,智能手機所使用的鏡片需要高解析度,因此需要減少雙折射的影響,了解鏡片的雙折射的大小,是鏡片生產過程中不可缺少的,WPA-200-MT正符合這樣的需求,并能高速完成各項測量。
        • 應力雙折射測量系統WPA-200-L系列是Photoniclattic公司以其L先世界的光子晶體制造技術開發的產品,獨特的測量技術,高速而又精q的測量能力使其成為不可多得的光學測量產品。該產品在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量,全面掌握應力分布??蓽y數千nm高相位差分布的萬用機器,Z適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果,二維圖表可以更直觀的讀取數據。
        • 應力雙折射測量系統WPA系列可測量相位差高達3500nm,適合PC高分子材料,是Photoniclattic公司以其光子晶體制造技術開發的產品,獨特的測量技術使其成為不可多得的光學測量產品。該產品在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量,全面掌握應力分布。WPA-200型更是市場上的萬能機器,適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果,二維圖表可以更直觀的讀取數據。
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