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        雙折射測量儀PA-300-MT

        • 型   號:
        • 價   格:

        雙折射測量儀PA-300-MT是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術的光子晶體偏光陣列片,獨有的雙折射算法設計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業內,特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。

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        雙折射測量儀PA-300-MT主要特點:

        • 操作簡單,測量速度可以快到3秒;
        • 視野范圍內可一次測量,測量范圍廣;
        • 更直觀的全面讀取數據,無遺漏數據點;
        • 具有多種分析功能和測量結果的比較;
        • 維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構;
        • 高達2056x2464像素的偏振相機。


        雙折射測量儀PA-300-MT應用領域

        • 小尺寸樣品
        • 光學鏡頭


        主要技術參數: 

          項次           項目            具體參數
        1輸出項目          相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa】
         
        2測量波長520nm
         
        3雙折射測量范圍0-130nm
         
        4測量小分辨率0.001nm
         
        5測量重復精度<1nm(西格瑪)
         
        6視野尺寸17.5x21mm到33x40mm(標準)
         
        7選配鏡頭視野6.3x7.5mm
         
        8選配功能                實時解析軟件,鏡片解析軟件,數據處理軟件,實現外部控制


        測量案例:
        復印機鏡頭測量藍寶石測量單反相機鏡頭測量

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