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        雙折射測量儀PA-Micro

        • 型   號:
        • 價   格:

        雙折射測量儀PA-Micro操作簡單,測量速度可以快到3秒。更直觀的全面讀取數據,無遺漏數據點。具有多種分析功能和測量結果的比較。維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構。高達2056x2464像素的偏振相機。

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        PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術的光子晶體偏光陣列片,獨有的雙折射算法設計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業內,特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。

        雙折射測量儀PA-Micro主要特點:

        • 操作簡單,測量速度可以快到3秒。
        • 視野范圍內可一次測量,測量范圍廣。
        • 更直觀的全面讀取數據,無遺漏數據點。
        • 具有多種分析功能和測量結果的比較。
        • 維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構。
        • 高達2056x2464像素的偏振相機

        雙折射測量儀PA-Micro應用領域:

        • 通信光纖
        • 晶體
        • 醫學細胞


        技術參數:

            項次

                   項目            

        具體參數

        1

        輸出項目

                  相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa

         

        2

        測量波長

        520nm

         

        3

        雙折射測量范圍

        0-130nm

         

        4

        測量小分辨率

        0.001nm

         

        5

        測量重復精度

        <1nm(西格瑪)

         

        6

        視野尺寸

        142x170um3.5x4.2mm
        (×2,×5,×10,×20,×50)

         

        7

        選配鏡頭視野

         

        8

        選配功能    

                    實時解析軟件,鏡片解析軟件,數據處理軟件,實現外部控制


        測量案例: 

         

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