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        online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stage

        • 型   號:
        • 價   格:

        online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stageSTS的低配版,可升級STS 。 操作簡單,可以調整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布。 記錄雙折射的數值數據,以進行進一步詳細分析。

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           Photron集團公司是日本大型相機,視頻,軟件控制供應商,其旗下的高速/超高速攝像機業務應用非常廣泛,歐屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的雙折射/殘余應力測量設備,其高速相機CCD芯片與Photonic Lattice公司的偏光陣列片完美結合,研制在線雙折射/殘余應力測量儀,世界上僅有KAMAKIRI可以提供,廣泛應用于光學薄膜,PVA,PC,COP和TAC等領域

         

        online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stage應用領域

        • 相位差薄膜(TAC/PC/PMMA/COC
        • 保護薄膜(PET/PEN/PS/PI
        • 樹脂成型
        • 玻璃 


        online雙折射測量儀KAMAKIRI -X stage技術參數:

        項目

        具體參數

        1

        輸出項目

        相位差【nm】,軸方向【°

         

        2

        測量波長

        543nm(支持客制化)

         

        3

        雙折射測量范圍

        0-260nm(支持客制化)

         

        4

        主軸方位范圍

        0-180°

         

        5

        測量重復精度

        <1nm(西格瑪)

         

        6

        測量尺寸

        A4(標準)

         

        7

        定制選項

        可定制大載臺

         





















         

             

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