<table id="eb127"></table>

        <td id="eb127"></td>
        返回首頁 在線留言 聯系我們

        產品目錄

        聯系方式

        北京歐屹科技有限公司
        聯系人:魯工 王工
        手機:13910937780,17600738803
        電話:13910937780
        地址:北京市昌平區回龍觀西大街115號龍冠大廈3層
        郵編:102208
        郵箱:bobwang@oelectron.com
        首頁 > 產品展示 > 雙折射測量儀 > 膜厚測量儀 > ME-210-T膜厚測量儀

        產品中心

        ME-210-T膜厚測量儀

        • 型   號:
        • 價   格:

        ME-210-T膜厚測量儀為一種光學系膜厚測量裝置,這個裝置的特點是可以高精度測量1nm一下的極薄膜,也適合測量玻璃等透明基板上的薄膜。ME-210-T 活用了本公司特有的偏光Senor 技術,將不能變為可能,以往的技術是無法測量0.5mm厚的玻璃基板,在這項技術下,可進行極薄膜的高精度測量,舉例來說顯示器用的ITO膜或配向膜的評估,也可運用ME-210-T輕松達成。

        分享到:

        ME-210-T膜厚測量儀適用透明基板的高速Mapping橢偏儀 ···可測量透明基板上的光阻膜及配向膜分布

         

        橢偏儀為一種光學系膜厚測量裝置,膜厚測量儀這個裝置的特點是可以高精度測量1nm一下的極薄膜,也適合測量玻璃等透明基板上的薄膜。

        ME-210-T膜厚測量儀用了本公司特有的偏光Senor 技術,將不能變為可能,以往的技術是無法測量0.5mm厚的玻璃基板,在這項技術下,可進行極薄膜的高精度測量,舉例來說顯示器用的ITO膜或配向膜的評估,也可運用ME-210-T  輕松達成。

        ME-210-T的高精度膜厚分布資料,定會對先進的薄膜產品的生產有的用途。

         

        ME-210-T膜厚測量儀特點

        1,   高效的測量速度(每分約1000點:)可短時間內取得高密度的面分布數據。

        2,   微小領域量測(20un左右)可簡單鎖定&測量任一微小區域。

         

        3,   可測量透明基板

        適用于解析玻璃基板上的極薄膜

         

        測量實例

        涂布膜邊緣擴大測量

          可階段性擴大微小領域,然后獲得詳細的膜厚分布數據

         

        GaAs Wafer 上酸化膜厚的分布測量

         縮小膜厚顯示范圍,膜厚差距不大的樣品,也可以簡單評估、比較其分布狀況

         

        ME-210-T膜厚測量儀設備參數

                   項目

        規格

        光源

        半導體激光(636nm、class2)

        小測量領域

        廣域模式:0.5mm×0.5mm

        高精細模式:5.5um×5.5um

        入射角

        70『deg』

        測量再現性

        膜厚:0.1nm 折射率:0.001     ※1

        大測量速度

        1000point/min(廣域模式)

        5000point/min(高精密模式)

        載物臺

        行程:XY200mm以上

        大移動速度:約40mm/scc

        尺寸/重量

        約650×650×1740mm(W×D×H)/約200kg

        電源

        AC100V

        備注

        ※1:此數值是以廣域模式測量SiO2膜(膜厚約100mm)其中一點,重復測量100次后的標準偏差值

        留言框

        • 產品:

        • 補充說明:

        • 您的單位:

        • 您的姓名:

        • 聯系電話:

        • 常用郵箱:

        • 詳細地址:

        • 省份:

        • 驗證碼:

          請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7
        上一篇 : PI-300/WPI-300偏振相機    下一篇 :  APCO精密劃片機
        網站首頁 公司簡介 產品中心 招聘中心 技術支持 企業動態 聯系我們 管理登陸
        北京歐屹科技有限公司專業提供ME-210-T膜厚測量儀,ME-210-T膜厚測量儀特點等產品信息,歡迎來電咨詢!
        GoogleSitemap ICP備案號:京ICP備15048507號-2 技術支持:
        化工儀器網
        聯系方式
        • 聯系人:魯工
        售前咨詢
        日本高清色视频高清日本电影 - 亚洲自偷精品视频自拍 - 香蕉人人超人人超碰超国产