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        應力雙折射測量系統

        • 型   號:WPA-200
        • 價   格:

        應力雙折射測量系統WPA系列可測量相位差高達3500nm,適合PC高分子材料,是Photonic lattic公司以其光子晶體制造技術開發的產品,獨特的測量技術使其成為不可多得的光學測量產品。該產品在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量,全面掌握應力分布。WPA-200型更是市場上的萬能機器,適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果,二維圖表可以更直觀的讀取數據。

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        WPA-200

        應力雙折射測量系統 WPA-200

                WPA系列可測量相位差高達3500nm,適合PC高分子材料,是Photonic lattic公司以其的光子晶體制造技術開發的產品,獨特的測量技術,使其成為不可多得的光學測量產品。 該產品在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量,全面掌握應力分布。WPA-200型更是市場上的萬能機器,適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果,二維圖表可以更直觀的讀取數據。

          

        應力雙折射測量系統 WPA-200主要特點:

        • 操作簡單,測量速度可以快到3秒。
        • 采用CCD Camera,視野范圍內可一次測量,測量范圍廣。
        • 測量數據是二維分布圖像,可以更直觀的讀取數據。
        • 具有多種分析功能和測量結果的比較。
        • 維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構。
        • 市場占有率很高的殘余應力測量設備。


         主要應用: 

        · 光學零件(鏡片、薄膜、導光板)

        · 透明成型品(車載透明零件、食用品容器)

        · 透明樹脂材料(PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC

        · 透明基板(玻璃、石英、藍寶石、單結晶鉆石)

        · 有機材料(球晶、FishEve

         
        技術參數:

        項次

        項目

        具體參數

        1

        輸出項目

        相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa

         

        2

        測量波長

        520nm、543nm、575nm

         

        3

        雙折射測量范圍

        0-3500nm

         

        4

        測量小分辨率

        0.001nm

         

        5

        測量重復精度

        <1nm(西格瑪)

         

        6

        視野尺寸

        218x290mm-360×480mm(標準)

         

        7

        選配鏡頭視野

        無選配

         

        8

        選配功能

        實時解析軟件,鏡片解析軟件,數據處理軟件,實現外部控制,CD模式

         

         

         測量案例:

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