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        技術支持

        日本PHL公司雙折射(應力)測量儀原理及特點
        發布時間:2020-10-13   點擊次數:326次

         

        透明物體由于不均勻冷卻或其他如受機械作用等原因,其內部會產生內應力,引起雙折射,晶體物質本身具有雙折射的光學特征。應力雙折射儀采用偏振光電矢量合成及光學補償原理,通過對樣品的光程差的定量測定,確定樣品應力雙折射的大小。

          日本PHL公司應力雙折射儀的原理:   
            
             
        當光穿透具有雙折射特性的透明物質時,光的偏光狀態會產生變化。換句話說,比較光穿透物體前之后的偏光狀態,即可評估物質的雙折射。該設備裝配的偏光感應器,使用了日本PHL公司特有的光子晶體技術組裝而成的偏光感應器,能瞬間將偏光資訊以影像方式提取保存。再搭配專屬的演算、畫像處理軟件,能將雙折射分布數據定量化,變成可以分析的資料。

        用途:
                應力儀是用來檢查透明物體內應力大小和分布狀況的儀器。不僅在光學玻璃、光學儀器、玻璃制品、塑料制品等工業得到廣泛應用,而且在建材、燈具、制藥、飲料、工藝品安全防爆指標的檢驗方面也占有重要地位,在水晶飾品制作、地質礦產、材料科學領域也有不少應用。同時,本儀器也是各大專院校特別理想的教學實驗設備。

         

          日本PHL公司應力雙折射儀系統特點:

          1、操作簡單/快速測定:獨特的偏振成像傳感器進行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布。

          2、2D數據的多方面分析功能:二維數據的強大分析功能,能夠直觀解釋被測樣品的特性。

          3、大相位差測試能力:通過對三組不同波長的測量數據進行計算,WPA系統可以測量出幾千nm范圍內的相位差。

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